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電子產(chǎn)品冷熱沖擊溫變測試方法介紹

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發(fā)布時(shí)間: 2023-12-15 16:06
最后更新: 2023-12-15 16:06
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溫變測試溫度變化試驗,為設置一定的溫度變化速率進(jìn)行高溫與低溫之間的轉變。

  在實(shí)際應用中有兩類(lèi):

  一類(lèi)為慢速的溫度變化試驗,其溫度變化速率<3℃/min(一般各標準經(jīng)常選擇參數為1℃/min),也既一般應用中的溫度變化、溫度循環(huán)、溫度交變試驗(此三類(lèi)為一種試驗);

  另一類(lèi)為的溫度變化試驗,其溫度變化速率≥3℃/min,也既一般應用中的溫變試驗。溫度變化速率越快,考核越嚴酷。

溫度變化試驗的特點(diǎn):

  產(chǎn)品在試驗中工作、溫度變化的速率一定。溫度變化速率一般為3℃/min、4℃/min、5℃/min、7℃/min、10℃/min,15℃/min,20℃/min,25℃/min。

  本試驗適用于組件、裝備或其它產(chǎn)品。為產(chǎn)品模擬帶電工作時(shí)隨溫度的變化,如在系統/組件工作時(shí)改變周?chē)鷾囟?。如果系統/組件處在熱浸透溫度(例如安裝在發(fā)動(dòng)機上的系統/組件),高溫階段附加的短暫溫度峰值要確保產(chǎn)品在這期間的基本功能。為避免系統/組件內的電熱擴散抑制系統/組件達到低溫的效果,故在降溫階段將產(chǎn)品關(guān)閉。失效模式為溫度變化引起的電氣故障溫度循環(huán)效應:喪失電性功能,潤滑劑變質(zhì)而失去潤滑作用,焊點(diǎn)裂化、PCB脫層、結構喪失機械強度與塑性變形,玻璃與光學(xué)制品破裂,焊點(diǎn)裂錫,零件特性能退化,斷裂,移動(dòng)件松弛,材料收縮膨脹,氣密與絕緣保護失效.

  參考標準

  GB/T2423.34

  IEC

  GJB150.5

冷熱沖擊試驗是用高溫和低溫沖擊測試產(chǎn)品的試驗,考核產(chǎn)品對于周?chē)諝鉁囟鹊募ち易兓倪m應性。常見(jiàn)的冷熱沖擊參考標準有國標GB 2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程》,IEC基本環(huán)境試驗規范.第2部分 試驗N 溫度變化)。

  國標GB 2423里高溫試驗的將試驗樣品放入溫度為試驗室溫度的試驗箱中,然后將溫度調節到符合相關(guān)規范規定的嚴酷等級溫度。當試驗樣品溫度達到穩定后,在該條件下暴露到規定的持續時(shí)間。對于試驗時(shí)需要通電運行的試驗樣品(即使它們不屬于散熱試驗樣品),應在試驗樣品溫度達到穩定后通電,根據需要進(jìn)行功能檢測。這種情況下,可能還需要一段時(shí)間達到溫度穩定,然后試驗樣品在該高溫條件下暴露到相關(guān)規范規定的持續時(shí)間。

冷熱沖擊試驗各類(lèi)標準中的冷熱沖擊試驗均來(lái)源于IEC 試驗方法N:溫度變化中的Na 。在特定時(shí)間內溫度變化試驗。它的定義在特定時(shí)間內進(jìn)行溫度變化,轉換時(shí)間一般設定為手動(dòng)2~3 分鐘,自動(dòng)少于30 秒,小試件則少于10 秒。常用術(shù)語(yǔ)中的溫度沖擊試驗也屬于冷熱沖擊試驗。

  冷熱沖擊試驗有幾個(gè)重要參數需要考慮:循環(huán)數、溫度轉換時(shí)間、溫度保持時(shí)間、溫度極限值(因此項試驗為存儲類(lèi)試驗,故其極限值為存儲極限溫度值)。


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