安車(chē)昇輝檢測第三方機構性測試實(shí)驗室擁有CNAS和CMA資質(zhì)。測試項目包括：防水防塵測試、振動(dòng)、機械沖擊、高壓蒸煮、包裝跌落，恒溫恒濕，冷熱沖擊、氣體腐蝕、鹽霧、氙燈老化、抗拉強度、硬度、拉伸強度、高低溫測試等服務(wù)。如若您有關(guān)于檢測認證的問(wèn)題可以咨詢(xún)我們，我們將為您解答，服務(wù)至您滿(mǎn)意為止! 

高低溫環(huán)境試驗分為高溫工作、低溫工作、低溫貯存、高溫貯存測試類(lèi)型。

實(shí)驗室具備從0.2m3至16m3的不同大小尺寸的高低溫溫度試驗系統，具備獨立的搭接樣品的空間，試驗箱一側均具備出線(xiàn)端子，可以引出電源線(xiàn)或信號線(xiàn)進(jìn)行產(chǎn)品的工作操作試驗。

高低溫測試試驗是用來(lái)確認產(chǎn)品在溫濕度氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應性。

  高低溫測試試驗的嚴苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續時(shí)間。

高低溫High and low temperature testing試驗方法：

預處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩定。

初步檢測：將測試樣品與標準要求進(jìn)行比較，滿(mǎn)足要求后直接放入高低溫試驗箱。

樣品斷電時(shí)，試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內，試驗箱（室）內溫度應降至-50℃，保持4小時(shí)；不要在樣品通電狀態(tài)下進(jìn)行低溫測試，這一步非常重要，因為芯片本身在通電狀態(tài)下會(huì )產(chǎn)生20℃因此，在通電狀態(tài)下，通常更容易通過(guò)低溫試驗，必須先凍透，再通電試驗。

在低溫階段結束后5min將試驗樣品轉換為已調整的樣品90℃保持在高溫試驗箱（室）內4h或者直到測試樣品達到溫度穩定，與低溫測試相反，加熱過(guò)程不斷電，芯片內部溫度保持高溫，4小時(shí)后執行A、B測試步驟。

進(jìn)行老化測試，觀(guān)察是否存在數據對比錯誤。

高溫和低溫試驗分別重復10次。

重復上述實(shí)驗方法，以完成三個(gè)循環(huán)。根據樣品的大小和空間的大小，時(shí)間可能略有誤差。

恢復：試驗樣品從試驗箱中取出后，應在正常試驗大氣條件下恢復，直至試驗樣品達到溫度穩定。

后檢測：根據標準中的損傷程度等方法評估檢測結果。 

實(shí)驗室安全按照CNAS授權檢測范圍基礎標準GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫》 和 GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫》標準進(jìn)行高低溫工作、高低溫貯存、高低溫極限、干冷干熱、溫度變化、高溫老化、高溫壽命、高低溫耐受性試驗技術(shù)服務(wù)，出具帶有CNAS,CMA印章的第三方檢測報告。