國產(chǎn)芯片替代測試 替代測試主要內容 替代測試主要指標 高速連接器 RJ45器件
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在新的數字系統中，數據轉換及傳輸的速率往往都在幾個(gè)千兆比特,因此必須把連接器作為整個(gè)傳輸線(xiàn)的一部分考慮進(jìn)去，包括阻抗、傳播延遲、時(shí)滯和串擾等因素。

由于背板是互連系統總線(xiàn)的核心交換連接部分，所以背板上傳輸的信號速率通常是系統內最高的，這對背板連接器的SI性能也提出更高要求。

相對于集成電路的封裝，印制電路板上的傳輸線(xiàn)以及連接器，由于幾何尺寸相對較大，更容易進(jìn)入“分布參數模型”，即高速信號互連通道。PCB互連線(xiàn)、連接器以及布置在上的元件構成了電子設備互連系統的主要組成部分，信號通過(guò)印制板互連線(xiàn)以及連接器擴展到其他的印制板上，從而構成了整個(gè)背板系統。連接器作為整個(gè)互連系統的關(guān)鍵部位，已經(jīng)成為提高系統傳輸速率的瓶頸，因此，研制滿(mǎn)足高速率傳輸性能的連接器，是提升系統高速互連性能的主要手段，也是解決信息化系統高速互連問(wèn)題的關(guān)鍵因素。

產(chǎn)品特點(diǎn)國產(chǎn)芯片替代測試 替代測試主要內容 替代測試主要指標 高速連接器 RJ45器件

在傳統數字系統設計中，高速互聯(lián)現象常?？梢院雎圆挥?，因為它們對系統的性能影響很微弱。然而，隨著(zhù)計算機技術(shù)的不斷發(fā)展，在眾多決定系統性能的因素里，高速互聯(lián)現象正起著(zhù)主導作用，常常導致一些不可預見(jiàn)問(wèn)題的出現，極大的增加了系統設計的復雜性。

在高速信號鏈路中，如果信號沿互聯(lián)傳播時(shí)受到的瞬時(shí)阻抗發(fā)生變化，則一部分信號將被反射，另一部分發(fā)生失真并繼續傳播下去，這是很多SI問(wèn)題產(chǎn)生的主要原因。影響阻抗的因素很多，包括走線(xiàn)周?chē)橘|(zhì)的介電常數、介質(zhì)厚度、線(xiàn)寬、以及參考平面的連續性，尤其高速連接器處過(guò)孔，容性較大，阻抗較低，常常出現阻抗不連續問(wèn)題。

針對高速連接器處過(guò)孔不連續，通常大家使用高密壓接連接器，這種連接器避免焊錫，同時(shí)在連接高速線(xiàn)過(guò)孔處進(jìn)行挖洞處理，降低過(guò)孔處容性，提高阻抗，保證其阻抗連續性。雖然過(guò)孔挖洞會(huì )優(yōu)化阻抗連續性，但是忽略了板厚，同樣的挖洞大小放在不同板厚的板子上，帶來(lái)的阻抗優(yōu)化效果并不相同。

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