集成電路封裝與測試，變壓器開(kāi)路試驗

集成電路的構成在不斷發(fā)展。電路中所需的晶體管、電容、電阻以及其他有源和無(wú)源元件集成在微小的半導體晶圓上，并使用集成電路（Integrated Circuit，IC）進(jìn)行安裝，該集成電路采用一定的處理方法并遵循特定的電路連接。它轉變?yōu)槿萜鲀鹊奈⒂^(guān)結構，可以執行某種電路或系統功能。

最早的集成電路使用電子管，后來(lái)使用晶體管。集成電路的電子元件正在呈指數級增長(cháng)并朝著(zhù)小型化方向發(fā)展。當今電子產(chǎn)品的日常使用經(jīng)常受到集成電路損壞的影響，從而導致一個(gè)或多個(gè)部件發(fā)生故障。那么如何判定集成電路的好壞呢？