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連接器高低溫老化試驗

品牌: 華瑞測分析
項目: 可靠性高低溫測試
產(chǎn)地: 深圳
單價(jià): 30.00元/小時(shí)
發(fā)貨期限: 自買(mǎi)家付款之日起 天內發(fā)貨
所在地: 廣東 深圳
有效期至: 長(cháng)期有效
發(fā)布時(shí)間: 2023-11-10 09:51
最后更新: 2023-11-10 09:51
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高低溫老化測試、溫濕度循環(huán)老化測試、溫度沖擊老化測試、振動(dòng)、機械沖擊、跌落、防塵防水、高壓清洗、按鍵疲勞和壽命測試,插拔疲勞和壽命等測試; 

樣品量:4

周期:試驗循環(huán)周期 結束后2

 耐候老化測試:紫外UV老化測試、氙燈老化測試、碳弧燈老化測試、鹵素燈老化測試、橡膠臭氧老化測試、熱空氣老化測試、老化后色差/灰標評價(jià)、機械性能化測試、老化前后硬度、強度測試、沖上擊測試、;

 

老化試驗主要是指針對橡膠、塑料產(chǎn)品、電器絕緣材料及其他材料進(jìn)行的熱氧老化試驗;或者針對電子零配件、塑化產(chǎn)品的換氣老化試驗。 

老化試驗又分為溫度老化、陽(yáng)光輻照老化、加載老化等等。

高溫老化一般分幾個(gè)等級進(jìn)行,工業(yè)的一般用70,4個(gè)小時(shí),15度一個(gè)等級,一般有40,5570,85度幾個(gè)等級,時(shí)間一般都是4個(gè)小時(shí)。

根據老化試驗產(chǎn)品的多少分為2種方法測試

1、老化箱;主要針對塑膠產(chǎn)品,而且數量和體積不很大的產(chǎn)品比較實(shí)用

2、老化柜或是老化房;主要針對高性能電子產(chǎn)品(如:計算機整機,顯示器,終端機,車(chē)用電子產(chǎn)品,電源供應器,主機板、監視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設備,是提高產(chǎn)品穩定性、可靠性的重要實(shí)驗設備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程,該設備廣泛應用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域

主要的老化試驗項目是:

1、光老化測試+波長(cháng)范圍:氙弧燈老化(300-800nm)、紫外燈老化(280-400nm)、碳弧燈老化(300-700nm),金屬鹵素燈老化(280-3000nm)。

主要參考標準有:

氙弧燈老化:GB/T 16422.2(等同與GB/T4892.2)、GB/T 8427、GB/T 1865ASTM D4355、ASTM G155、JIS K5600

紫外光老化:GB/T 16422.3(等同與GB/T4892.3)、GB/T 18950、ASTM G 154ASTM D-4674、ASTM_D4674、JIS K 7350

碳弧燈老化:GB/T 16422.3(等同與GB/T4892.3)、ASTM G153、JIS D 0205JIS B 7753

金屬鹵素燈老化:GB 2423.24、IEC60068-2-5、DIN75520

光老化是戶(hù)外使用材料受到的主要老化破壞,對于室內使用材料,也會(huì )受到一定程度的光老化。模擬光老化主要的三種燈源各有優(yōu)異,碳弧燈發(fā)明使用,建立的測量體系較早、很多日本標準和纖維材料方面的標準都使用碳弧燈,但由于碳弧燈價(jià)格較高、性能不夠穩定(燈管使用90小時(shí)后需要更換),已經(jīng)逐漸被氙弧燈、紫外燈代替。氙燈在模擬自然光方面有較大優(yōu)勢,價(jià)格也相對較低,適合多數產(chǎn)品的使用。紫外燈產(chǎn)生的是400nm以下的光,能較好地加速模擬自然光中紫外線(xiàn)對材料的破壞作用,加速因子比氙燈要高,光源穩定性也比氙燈要好,但容易產(chǎn)生非自然光產(chǎn)出的破壞(尤其是UVB燈)。

主要應用范圍:戶(hù)外、室內使用的橡塑、涂料、油墨產(chǎn)品,通訊、電器等設備外殼,汽車(chē)件、摩托車(chē)配件。

2、熱老化

主要參考標準:GB/T 7141、ASTM D3045、JIS K 6257等。

GB/T20028硫化橡膠或熱塑性橡膠 應用阿累尼烏斯圖推算壽命和使用溫度。

 

 眾所周知,電子產(chǎn)品在生產(chǎn)出廠(chǎng)過(guò)程中,總有一個(gè)步驟是必不可少的,那就是高低溫老化測試。那么,電子產(chǎn)品為什么要進(jìn)行高低溫老化測試呢?我相信這個(gè)問(wèn)題很多人都有想過(guò),那么今天就請跟隨環(huán)境老化測試專(zhuān)家——深圳華瑞測實(shí)驗室(高低溫老化測試廠(chǎng)家)一起來(lái)探究一下吧。

    隨著(zhù)電子技術(shù)的發(fā)展,電子產(chǎn)品的集成化程度越來(lái)越高,結構越來(lái)越細微,工序越來(lái)越多,制造工藝越來(lái)越復雜,這樣在制造過(guò)程中會(huì )產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí),因設計不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題概括有兩類(lèi):

    類(lèi)是產(chǎn)品的性能參數不達標,生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求;

    第二類(lèi)是潛在的缺陷,這類(lèi)缺陷不能用一般的測試手段發(fā)現,而需要在使用過(guò)程中逐漸地被暴露,如硅片表面污染、組織不穩定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。

    一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被(暴露)。顯然,對每只元器件測試一千個(gè)小時(shí)是不現實(shí)的,所以需要對其施加熱應力和偏壓,例如進(jìn)行高溫功率應力試驗,來(lái)加速這類(lèi)缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機械的或多種綜合的外部應力,模擬嚴酷工作環(huán)境,消除加工應力和殘余溶劑等物質(zhì),使潛伏故障提前出現,盡快使產(chǎn)品通過(guò)失效浴盆特性初期階段,進(jìn)入高可靠的穩定期。

     通過(guò)高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過(guò)程中存在的隱患提前暴露,老化后再進(jìn)行電氣參數測量,篩選剔除失效或變值的元器件,盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用,從面保證出廠(chǎng)的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的考驗。

溫濕度組合循環(huán)老化試驗、交變濕熱老化試驗、恒定濕熱老化試驗、高低溫度變化試驗、恒溫恒濕試驗、高溫試驗、低溫試驗、

 

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗A:低溫GB/T 2423.1-2008

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗A:低溫試驗方法   IEC 60068-2-12007

軍用設備環(huán)境試驗方法 4部分:低溫試驗     GJB 150.4A-2009

電連接器和插座低溫測試程序   EIA-364-59A-2006(R2013)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗A:高溫GB/T 2423.2-2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗B:高溫試驗方法   IEC 60068-2-22007

軍用設備環(huán)境試驗方法:高溫試驗   GJB 150.3A-2009

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化GB/T 2423.22-2012

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化IEC 60068-2-142009

軍用設備環(huán)境試驗方法:溫度沖擊 GJB 150.5A-2009

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗  GB/T 2423.3-2006      

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法     IEC 60068-2-782012

電連接器和插座的濕度測試程序  EIA-364-31D-2014

色漆和清漆 耐濕性的測定連續冷凝法GB/T13893-2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))GB/T 2423.4-2008

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán)) IEC 60068-2-302005

漆膜耐濕熱測定法GB/T1740-2007

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗ZAD:溫度濕度組合循環(huán)試驗GB/T 2423.34-2012

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗  IEC 60068-2-382009

色漆和清漆 耐熱性的測定GB/T 1735-2009

電連接器和插座的溫度壽命測試(帶載或不帶載)程序      EIA-364-17C-2011電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫GB/T 2423.1-2008

電連接器和插座的溫度壽命測試(帶載或不帶載)程序EIA-364-17C-2011

華瑞測分析實(shí)驗室專(zhuān)業(yè)電子產(chǎn)品高低溫老化測試、高低溫循環(huán)老化測試、恒溫恒濕老化測試、高低溫沖擊老化測試、紫外光老化測試等各種電子產(chǎn)品專(zhuān)用環(huán)境老化測試服務(wù),通過(guò)多年的不斷努力與客戶(hù)的支持與信賴(lài),試驗已經(jīng)應用于:航空、航天、IT、通訊、電器、汽車(chē)、化工、塑膠、橡膠、塑料、金屬、建筑、電線(xiàn)電纜、皮革、紡織、機械、箱包、印刷及其高等院校等各大領(lǐng)域。技術(shù)、品質(zhì)、服務(wù)快捷到位,如有需求,敬請與我們通電,期待您的來(lái)電!


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