DDR測試系統

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
測試項目：DDR測試系統

   
     目前主流的DDR2也有多種速度、多種容量和多種規格,從DDR-266的266MT/S、133MHz、2.5V電壓，已經(jīng)發(fā)展到了現在的DDR2-1066的1066MT/S、533MHz、1.8V電壓。另外，低能耗DDR(LP-DDR，用于便攜式計算機)和顯存GDDR也是DDR的發(fā)展變化版本。目前主流的DDR也有多種速度、多種容量和多種規格,從DDR-266的266MT/S、133MHz、2.5V電壓，已經(jīng)發(fā)展到了現在的DDR3-1600,1.5V電壓。另外，低能耗DDR(LP-DDR，用于便攜式計算機)也是DDR的發(fā)展趨勢之。

    我們知道DRAM內部存儲單元的頻率提高比較困難且成本較高，DDR333的核心頻 率已經(jīng)達到了167MHz，為了解決外部數據傳輸率和核心速度之間的矛盾，DDR2采用了4bit Prefetch(數據預取架構)，因此DDR2 400的核心頻率僅為100MHz，DDR2 533的核心頻率為133MHz，因此DDR2很好的解決了DRAM核心頻率和外部數據傳輸頻率之間的問(wèn)題。

　從SDRAM開(kāi)始，內存就可以和時(shí)鐘同步，初的SDRAM采用了管線(xiàn)架構 (Pipeline architecture)，首先是地址信號(Add)和時(shí)鐘(CLK)同步，地址信號經(jīng)過(guò)譯碼選取內存隊列中相應的單元，內存隊列中選中的數據通過(guò)內部 數據總線(xiàn)輸出到信號放大電路。SDRAM的信號輸出部分也是和時(shí)鐘信號同步的，這就好象一條連續的管線(xiàn)一樣。由于全部操作都和時(shí)鐘同步，因此也叫同步內 存。

　DDR采用了2位預取(2-bit prefetch)，也就是2：1的數據預取，2bit預取架構允許內部的隊列(column)工作頻率僅僅為外部數據傳輸頻率的一半。在SDRAM中數 據傳輸率完全參考時(shí)鐘信號，因此數據傳輸率和時(shí)鐘頻率一樣。DDR2采了4位預取(4-bit prefetch)，這就是DDR2提高數據傳輸率的關(guān)鍵，可以在不提高內部存儲陣列頻率的情況下提高數據輸出帶寬，未來(lái)的DDR3還有現在的RDRAM 采用了8位數據預取。

測試環(huán)境：DDR測試系統

   DDRA的功能特性如下

   1.新的自動(dòng)配置向導，引導用戶(hù)簡(jiǎn)便地完成設置和測試配置;

   2.可識別和分析整個(gè)采集中的所有讀/寫(xiě)突發(fā);

   3.為讀和寫(xiě)繪制DQS和DQ眼圖;

   4.使用Pass/Fail極限執行JEDEC一致性測試;

   5.使用片選判定多排測量;

　 6.簡(jiǎn)便地在一致性測試工具和分析/調試工具之間切換;

　 7.使用Pass/Fail信息、統計測量結果和測試設置信息，自動(dòng)生成合并報告。
       DDRA不是種獨立式工具，可直接與泰克強大的抖動(dòng)、眼圖和定時(shí)分析工具DPOJE連接，完成更多測量項目：

　 1.周期/頻率、占空比、幅度、上升/下降時(shí)間測量;

對于DDR的數字調試和驗證，泰克的TLA7000系列邏輯分析儀+Nexus分析軟件和NEXVu插卡式DIMM夾具提供了DDR2/3存儲器數據采集、分析和協(xié)議檢驗及調試解決方案。

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測試夾具：DDR測試系統